电子元件阻抗分析仪厂家 电子元件阻抗分析仪厂家 电源检查
（1） 供电电压范围：100 ～ 120 Vac 或 198 ～ 242 Vac 。与后面板电源设置有关。
（2） 供电频率范围：47 ～ 63 Hz。
（3） 供电功率范围：不小于 80 VA。
（4） 电源输入相线 L、零线 N 、地线 E 应与本仪器电源插头相同。
（5） 本仪器已经经过仔细设计以减少因 AC 电源端输入带来的杂波干扰，然而仍应尽量使其在低 噪声的环境下使用，如果无法避免，请安装电源滤波器。
阻抗分析仪：仪器的导线连接到测试夹具上，测试夹具应适合 DUT 特定类型的特性。
测试夹具：文本夹具经过精心设计，可固定被测试装置，但不会改变或干扰其阻抗特性。
电缆和适配器：可使用电缆和适配器使仪器的导线和测试夹具的连接器在电气上兼容。例如，可使用卡口式 Neill-Concelman (BNC) 连接器。
被测件：这是将被测元件插入适合其特定行为的测试夹具中。
如何使用阻抗分析仪测量电路中的复杂阻抗？
要使电路设计、印刷电路板 (PCB) 和 PCB 组件 (PCBA) 完全按照规格运行，就必须准确了解其电路块和材料的阻抗特性。
这些特性取决于信号频率、信号电压、温度、湿度和类似的操作因素。因此，阻抗分析仪的使用如下所述：
鉴定电路块：根据阻抗分析仪的测量结果，对每个主要电路块集成时的阻抗行为进行建模。每个电路块（如放大器子系统或滤波器子系统）的输入和输出阻抗都必须根据测量结果进行建模。
测量寄生：必须根据测量结果对 PCB 和元件在实际工作条件下的寄生电容和电感进行建模。这对于敏感的射频电路尤为重要。
测量 PCB 材料特性：印刷电路板和基板所用材料的介电常数是影响电路性能和电磁干扰的关键参数。必须使用阻抗分析仪在实际工作条件下测量这些参数。
阻抗分析仪如何帮助鉴定材料和传感器？
测量方法：根据阻抗和频率的预期测量范围选择测量方法。
电压电平控制：请记住，电容器的介电常数及其电容取决于交流电压电平。同样，电感器材料的电磁滞后也取决于交流电流电平。因此，一台好的分析仪至少必须具备电压电平监控功能。 好还能具备自动电平控制能力，以保持电压恒定。
测量精度：不同的分析仪及其设计具有不同的精度。根据所需的精度来决定分析仪。
所需的阻抗参数：根据要测量的参数选择仪器，如介电常数、磁导率、品质因数 (Q) 或耗散因子 (D)。
仪器的其他特性
（1） 功耗：消耗功率≤80VA。
（2） 外形尺寸（W*H*D）：400mm* 132mm*385mm；
（3） 重量：约 13kg；
高精度阻抗分析仪套件包括具有以下主要功能的三款仪器：
阻抗分析仪： 采用自动平衡电桥设计，可测量 25 mΩ 至 40 MΩ，扫描频率从 20 Hz 到 120 MHz。
阻抗分析仪： 是一款射频 IV 型分析仪，支持 120 mΩ 至 52 kΩ，扫描范围为 1 MHz 至 3 GHz，适用于大多数射频应用。
矢量网络分析仪：是一款全面的矢量网络分析仪，具有网络分析、阻抗分析和增益/相位分析功能，适用于高精度射频应用。其 3L5/005 解决方案选件增加了 5 Hz 至 3 GHz 阻抗分析功能。它还通过 40 VDC 直流偏置源支持直流 (DC) 应用。
所有这些仪器都支持通用接口总线 (GPIB)、局域网 (LAN) 和通用串行总线 (USB) 等数据输出接口。
主要参数：
准确度： Cx:±（读数×0.5%+0.5pF）；tgδ:±（读数×0.5%+0.00005）；
电容量范围：内施高压：3pF～60000pF/10kV；60pF～1μF/0.5kV；
外施高压：3pF～1.5μF/10kV；60pF～30μF/0.5kV；
*分辨率： 高0.001pF，4位有效数字；
*介电常数ε测试范围：0-200；
*介电常数ε准确度：0.5%
*介质损耗tgδ测试范围：不限，
*介质损耗tgδ分辨率：0.000001，电容、电感、电阻三种试品自动识别。
试验电流范围：5μA～5A；
*内施高压：设定电压范围：0.5～10kV ；
高压电极直径与表面积：￠98mm(75.43cm2)
测量电极直径与表面积： ￠50 mm(19.63cm2)
电极材料：不锈钢1Cr13Ni9Ti
电极工作面：精面面磨
电极间距：不大于5 mm
电极加热功率： >2*500W
电极 高温度：180°
加热时间：30分钟
电极压力：0~1.0Mpa连续可调
大测量电压：2000V，50Hz
大输出电流：200mA；
*升降压方式：电压随意设置。比如5123V。
试验频率： 40-70Hz单频随意设置。比如48.7Hz.
频率精度：±0.01Hz
外施高压：接线时 大试验电流5A，工频或变频40-70Hz
测量时间：约30s，与测量方式有关；
介电常数(ε)：某一电介质(如硅酸盐、高分子材料)组成的电容器在一定电压作用下所得到的电容量Cx与同样大小的介质为真空的电容器的电容量Co之比值，被称为该电介质材料的相对介电常数。
式中：Cx —电容器两极板充满介质时的电容；
Cο —电容器两极板为真空时的电容；
ε —电容量增加的倍数，即相对介电常数
介电常数的大小表示该介质中空间电荷互相作用减弱的程度。作为高频绝缘材料，ε要小，特别是用于高压绝缘时。在制造高电容器时，则要求ε要大，特别是小型电容器。
在绝缘技术中，特别是选择绝缘材料或介质贮能材料时，都需要考虑电介质的介电常数。此外，由于介电常数取决于极化，而极化又取决于电介质的分子结构和分子运动的形式。所以，通过介电常数随电场强度、频率和温度变化规律的研究，还可以推断绝缘材料的分子结构。
陶瓷介质损耗角正切及介电常数测试仪：它由稳压电源、高频信号发生器、定位电压表CBl、Q值电压表CB2、宽频低阻分压器以及标准可调电容器等组成(图2)。工作原理如下：高频信导发生器的输出信号，通过低阻抗耦合线圈将信号馈送至宽频低阻抗分压器。输出信号幅度的调节是通过控制振荡器的帘栅极电压来实现。当调节定位电压表CBl指在定位线上时，Ri两端得到约l0mV的电压(Vi)。当Vi调节在一定数值(10mV)后，可以使测量Vc的电压表CB2直接以Q值刻度，即可直接的读出Q值，而不必计算。另外，电路中采用宽频低阻分压器的原因是：如果直接测量Vi必须增加大量电子组件才能测量出高频低电压信号，成本较高。若使用宽频低阻分压器后则可用普通电压表达到同样的目的。
实验步骤
1、本仪器适用于110V/220V，50Hz交流电，使用前要检查电压情况，以保证测试条件的稳定。
2、开机预热15分钟，使仪器恢复正常状态后才能开始测试。
3、按部件标准制备好的测试样品，两面用特种铅笔或导电银浆涂覆，使样品两面都各自导电，但南面之间不能导通，备用。
4、选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率，调节测试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1，品质因素为Q1。
5、将被测样品接在Cx接线柱上。
6、再调节测试电路电容器使电路谐振，这时电容为C2，可以直接读出Q2。
7、用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d(分别在不同位置测得两个数据，再取其平均值)。
阻抗分析仪的基本概念
阻抗分析仪是一种精密的电子测量仪器，专门用于测定电子元件、材料或系统的交流阻抗特
性。其核心原理基于对被测对象施加可控频率和幅度的交流测试信号，同时精确测量电压与电流
响应的幅度差和相位差。通过建立复数阻抗模型(Z=Z|∠θ)，该仪器能够量化电阻、电容、电
感等基础参数以及介电常数、导纳等衍生特性。现代阻抗分析仪通常覆盖毫赫兹至吉赫兹的宽频
带范围，分辨率可达0.1%，为复杂系统的频域特性研究提供了关键工具。
1.2 探讨其用途的重要性
深入理解阻抗分析仪的应用价值具有显著必要性。在电子产业升级过程中，该设备直接影响
元器件筛选精度和电路设计效率;新材料研发领域，其表征数据决定了材料性能评估的可靠性;
生物医学工程中，更关乎生命体征监测的准确性。据行业调查显示，采用先进阻抗分析技术的研
发项目，其产品良品率平均提升23%，研发周期缩短近30%。因此，系统梳理该仪器的跨领域应
用场景，对推动多学科技术融合创新具有战略意义。
阻抗，作为电阻和电抗的复数，是一个动态且复杂的电气特性。在交流（AC）信号作用下，元件、电路或材料的阻抗会随频率变化而变化，这种变化不仅包括电阻，还包括电感、电容以及由此产生的电抗。为了更好地理解和分析这种动态特性，我们引入了“复阻抗”的概念。在二维复平面上，复阻抗可以用一个矢量来表示，该矢量包含实轴（电阻）和虚轴（电抗）两个分量。矢量的大小代表总阻抗，而方向则揭示了电压和电流之间的相位差。
阻抗分析仪正是用于测量这种复阻抗特性曲线的专业仪器。它能够在不同的频率范围内扫描并显示阻抗的变化情况，从而帮助工程师深入了解元件、电路或材料的电气特性。阻抗分析仪在电子和材料测试中有广泛的应用，包括电子学、电信、电力系统、航空航天以及汽车等多个行业。同时，它与LCR表等测量工具相比，具有更高的测量精度和更全面的信息展示能力。
频率范围：LCR表一般仅适用于较低频率的测量，而阻抗分析仪则能覆盖非常宽的频率范围。
功能：LCR表以其低成本和易用性受到欢迎，主要用于基本的固定频率阻抗测量。相比之下，阻抗分析仪功能更为全面，它不仅能测量各种阻抗参数，还支持共振分析和等效电路建模。
阻抗分析仪的工作原理：
阻抗分析仪的测量硬件经过精心设计，以实现特定的测量技术。这些技术各有千秋，阻抗分析仪正是通过这些方法来进行未知阻抗的测量。其中，电桥法是一种常用的技术，它通过比较未知阻抗与已知标准阻抗的电压或电流差异来工作。
图2展示了电桥电路方法，其中D代表仪器，Zx表示未知阻抗。这种经典技术通过简单的电桥电路将待测阻抗与已知参考阻抗进行对比。在低频测量领域，这种方法既简便又高效。但遗憾的是，它无法适用于高频测量或极低阻抗值的测量。接下来，我们将介绍另一种技术——电流-电压 (IV) 法。
图3展示了电流-电压测量法的电路。在此方法中，我们向电路或元件施加一个已知电压，并随后测量由此产生的电流，从而计算出阻抗。这种技术既直观又适用范围广泛。然而，应用时需格外注意电压与电流之间的相位差异。此外，射频（RF）IV法也是值得关注的一种技术。
图4展示了射频IV方法的电路。这一技术对IV方法进行了拓展，使其能在射频电路中广泛应用的较高频率下实现精准测量。为了在这些高频环境下精确捕捉相位差，该技术需要更为复杂的设计。接下来，我们将介绍另一种重要的测量方法——自动平衡电桥法。
图5展示了自动平衡电桥法的应用。这种方法巧妙地运用了反馈机制，使得电桥电路在频率发生变化时能够自动进行动态平衡。其频率和阻抗的支持范围相当广泛，同时保持了高精度的测量效果。然而，需要注意的是，这种方法的硬件设计相对较为复杂。接下来，我们将探讨如何利用阻抗分析仪来精确测量电子元件的阻抗。
图6展示了阻抗分析仪的测试装置。该装置主要包括阻抗分析仪、精心设计的测试夹具、电缆和适配器，以及将被测元件插入适合其特定行为的测试夹具中。
