粉末半导体及压实密度测试仪
粉末半导体及压实密度测试仪 体积电阻率：在绝缘材料里面的直流电场强度和稳态电流密度之商，即单位体积内的体积电阻。
注:体积电阻率的SI单位是12 "m。实际上也使用 fE " cm这一单位。
一. 操作步骤及流程
本机可以依据不同测试产品选择配置不同的测试治具，以下举例操作说明
1.在开机界面按下按键板上的“显示”键，进入测量界面。如图1
2. 如图2，在液晶显示屏右侧有4个蓝色功能按键，当测材料电阻率时，请选择 “材料”按键 ，进入材料测试主界面.
3.在该界面下通过按下按键板上的上下左右键，可以移动蓝色光标选择相应的参数。如图2，将移动到某一参数的位置，按下“设置”键，光标将变为深蓝色。此时通过上下左右键和数字键可以对相应的参数进行设置，设置完毕后按“确定”键返回。
4.把主机与夹具连接线，连接好并固定住，
5.取试样，试样试验前的处理依据标准进行，
6.把试样A端和B端夹口通过旋钮旋开，把试样的一端固定在A端夹口上面，在固定时，只有试样固定住，不会松动，勿因夹持力过大伤到导体，把试样另外一端固定在B端夹口，在夹持.固定方法同A端夹口操作方法相同.
7.试样固定住后，按照步骤3方式，在主机上设定线缆测试所需要的数据参数值.
8.. 按下“放大”键对应的按键可以对当前界面的测量数据进行放大
9. 待参数设置完毕，开始测量，把测试获得的数据写入试验报告中
10.以下设置和功能属于配置操作软件机型使用，如您购买的无电脑操作软件的话，请勿设置.
接口：可选择“USB”和“232”两种模式。根据用户使用的接口类型进行选择。
测试功能：可选择：“RρK”（显示电阻，电阻率，电导率），“R”（只显示电阻），“ρ”（只显示电阻率，“K”（只显示电导率）3种显示模式。
电阻的作用：
电阻在电路中的作用：利用著名的欧姆定律可以利用电阻控制电路中的电压、电流。
电阻的主要物理特征就是可以变电能为热能，因此热水器中的发热元件、电灯泡、电烫斗就是利用了电阻的作用制成的。另外电阻有怕热的特性，当导体材料温度升高时材料的电阻率会增大（有些材料则表现为减小），因此利用电阻的这种特性可以制作温度测量计（不知道你看见过没，插一根“铁丝”就能测量温度的方法就是利用了这种电阻材料作用的）。
另外一些材料的电阻还会受到光线照射的印象，而利用这样的材料可以制成光敏电阻，利用这点作用可以方便的设计光控电路以及光的测量和光电转换等领域。
微分电阻
如电阻跟随电压及电流变动，则可定义微分电阻为：
dU
r=--
dI
微分电阻的单位仍为欧姆，惟微分电阻值与基本的电阻值并不一致。微分电阻值有可能因有关仪器的特性而出现负值，称为负电阻。然而，基本电阻 （即电压与电流的商） 永远为正值。
电导率与电阻的关系
电阻率的倒数就是电导率，它们之间的关系成倒数关系。
电阻率:
用来表示各种物质电阻特性的物理量。某种材料制成的长1米、横截面积是1平方毫米的导线的电阻，叫做这种材料的电阻率。国际单位制中，电阻率的单位是欧姆?米，常用单位是欧姆?平方毫米/米。
电导率:
物理学概念，也可以称为导电率。在介质中该量与电场强度E之积等于传导电流密度J。对于各向同性介质，电导率是标量;对于各向异性介质，电导率是张量。生态学中，电导率是以数字表示的溶液传导电流的能力。单位以西门子每米(S/m)表示。
范围：
1本试验方法包含直流绝缘电阻，体积电阻和表面电阻的测量所用直流程序。通过该测量及样本和电极的几何尺寸，可以计算出电绝缘材料的体积电阻和表面电阻，同时还可以计算出相应的电导和电导率。
2这些试验方法不适用于测量中等导电材料的电阻/电导。这些材料评估可采用试验方法D4496。
3本标准描述了几种可选择的测量电阻（或电导）的普通备用方法。特殊材料科采用合适的标准ASTM试验方法进行测试，这些特殊材料具有电压应力范围和有限起电时间，同时规定了样本结构和电极几何形状。这些个别特殊试验方法将能更好得定义测量值的精度和偏差。
4本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。
意义
1 通常，绝缘材料用于将电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘;固体绝缘材料还起机械支撑作用。
对于这些用途，一般都希望材料具有尽可能高的绝缘电阻，有均匀一致的、得到认可的机械、化学和耐热
性能。表面电阻随湿度变化很快，而体积电阻随温度变化却很慢，尽管其 终的变化也许较大
2 体积电阻率能被用作选择特定用途绝缘材料的一个参数。电阻率随温度和湿度的变化而显著变
化，因此在为一些运行条件而设计时必须对其了解。体积电阻率的测量常被用于检查绝缘材料生产是
否始终如一，或检测能影响材料质量而又不能用其他方法检测到的导电杂质
3 一直流电压加在与试样相接触的两电极之间时，通过试样的电流会渐近地减小到一个稳定值。
电流随时间的减小 可能是 由于电介质极化和可动离子位移到电极所致。对于体积电阻率小 于
loll n"m的材料，其稳定状态通常在一分钟内达到，因此，经过这个电化时间后测定电阻。对于体积电
阻率较高的材料，电流减小的过程可能会持续到几分钟、几小时、几天甚至几星期。因此对于这样的材
料，采用较长的电化时间，且如果合适，可用体积电阻率与时间的关系来描述材料的特性.
4 由于或多或少的体积电导总是要被包括到表面电导测试中去，因此不能精确而只能近似地测量表
面电阻或表面电导。测得的值主要反映被侧试样表面污染的特性。而且试样的电容率影响污染物质的
沉积，它们的导电能力义受试样的表面特性所影响。。因此，表面电阻率不是一个真正意义的材料特性，
而是材料表面含有污染物质时与材料特性有关的一个参数。
某些材料如层压材料在表面层和内部可能有很不同的电阻率，因此测量清洁的表面的内在性能是
有意义的。应完整地规定为获得一致的结果而进行清洁处理的程序，并要记录清洁过程中溶剂或其他
因素对于表面特性可能产生的影响。
表面电阻，特别是当它较高时，常以不规则方式变化，且通常非常依赖于电化时间。因此，测量时通
常规定一 分钟的电化时间。
在温度一定的情况下，有公式：
ρL
R= —
S
其中的ρ就是电阻率，L为材料的长度， S为面积。可以看出，材料的电阻大小与材料的长度成正比，即在材料和横截面积不变时，长度越长，材料电阻越大：而与材料横截面积成反比，即在材料和长度不变时，横截面积越大，电阻越小。
应用
电阻率较低的物质被称为导体，常见导体主要为金属，而自然界中导电性 佳的是银，其次为半导体，硅锗。当存在外电场时，金属的自由电子在运动中不断和晶格节点上做热振子的正离子相碰撞，使电子运动受到阻碍，因而就具有了一定的电阻。其他不易导电的物质如玻璃、橡胶等，电阻率较高，一般称为绝缘体。介于导体和绝缘体之间的物质(如硅) 则称半导体。电阻率的科学符号为 ρ(Rho)。 已知物体的电阻，可由电阻率ρ、长度 l 与截面面积A 计算：ρ=RA/I，在该式中， 电阻R 单位为欧姆，长度 l 单位为米，截面面积 A 单位为平方米，电阻率 ρ单位为欧姆·米
影响电阻率的外界因素
电阻率不仅与材料种类有关，而且还与温度、压力和磁场等外界因素有关。金属材料在温度不高时，ρ与温度t(℃)的关系是ρt=ρ0(1+at)，式中ρt与ρ0分别是t℃和0℃时的电阻率;α是电阻率的温度系数，与材料有关。锰铜的α约为1×10-1/℃(其数值极小)，用其制成的电阻器的电阻值在常温范围下随温度变化极小，适合于作标准电阻。已知材料的ρ值随温度而变化的规律后，可制成电阻式温度计来测量温度。半导体材料的α一般是负值且有较大的量值。制成的电阻式温度计具有较高的灵敏度。有些金属(如Nb和Pb)或它们的化合物，当温度降到几K或十几K( 温度)时，ρ突然减少到接近零，出现超导现象，超导材料有广泛的应用前景。利用材料的ρ随磁场或所受应力而改变的性质，可制成磁敏电阻或电阻应变片，分别被用来测量磁场或物体所受到的机械应力，在工程上获得广泛应用。
测试
测量时从低档位逐渐拔往高档，每拨一次稍停留1～2秒以使观察显示数字， 当被测电阻大于仪器测量量程时，电阻表显示“1”，此时应继续将仪器拨到量程更高的位置，当测量仪器有显示值时应停下，当前的数字乘以档次即是被测电阻值。当有显示数字时不要再往更高次档拨，否测仪器会过量程，机内保护电路开始工作，仪器测量准确度会下降。
工作位置
工作站的位置选择必须安排在一般人员非必经的处所，使非工作人员选离工作站。如果因为条件限制的安排而无法做到时，必须将工作站与其这它设施隔开并且特别标明“测试工作站”。如果工作站与其它作业站非常接近时，必须特别注意安全的问题。在测试时必须标明“测试执行中，非工作人员请勿靠近”
准备工作：
1、取被测液体（如：增塑剂）试样50ml。
2、试样应在温度23±2℃，相对湿度65±5%的条件下处理2小时以上。
注意事项：
1、测定电极必须放置在高绝缘的垫板上。
2、测定电极在测试前后，均应做好清洗工作，特别是三只电极的支撑件不得受到试样的污染
安全注意事项
1. 使用前务必详阅此说明书，并遵照指示步骤，依次操作。
2. 请勿使用非原厂提供之附件，以免发生危险。
3. 进行测试时，本仪器测量端高压输出端上有直流高压输出，严禁人体接触 ，以
免触电。
4. 为避免测试棒本身绝缘泄漏造成误差，接仪器测量端输入的测试棒应尽可 能悬
空，不与外界物体相碰。
5. 当被测物绝缘电阻值高，且测量出现指针不稳现象时，可将仪器测量线屏 蔽端夹子接 上。 例如： 对电 缆测缆 芯与 缆壳的 绝缘 时，除 将被 测物两 端分 别接于 输入 端与高压 端， 再将电 缆壳 ，芯之 间的 内层绝 缘物 接仪器 “G”，以消 除因 表面漏 电而 引起的测 量误 差。也 可用 加屏蔽 盒的 方法， 即将 被测物 置于 金属屏 蔽盒 内，接 上测 量线。
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