粉末电阻率测试仪 粉体电阻率测试仪 双极板电阻率测试仪 双极板电导率测试仪 粉末电阻率测试仪 粉体电阻率测试仪
粉末及压实密度测试仪 粉体压实密度测试仪 粉体电导率测试仪 粉末电导率测试仪
四探针粉末电阻测试仪 四探针粉体电阻测试仪 四探针粉体电导率测试仪
多功能粉末半导体电阻测试仪 全自动粉体半导电电阻测试仪、电导率测试仪
粉末半导体及压实密度测试仪 粉末半导电材料电阻测试仪
全自动四探针半导电材料电阻测试仪 粉末压实密度电阻测试仪 粉末材料电阻率测试仪
电阻仪校准方法
电阻仪的校准是确保其测量准确性的重要步骤，以下是一般电阻仪校准的详细方法:
准备工作
1.标准电阻:准备一套已知准确阻值的标准电阻，其阻值范围应覆盖电阻仪的测量量程，精度应高于被校准电阻仪
的精度要求。例如，若要校准一台精度为±0.5%的电阻仪，标准电阻的精度至少应达到±0.1%。
2.校准环境:选择温度、湿度相对稳定且无强电磁干扰的环境进行校准，理想的温度范围一般为 20℃±5℃，相
对湿度在 40%-60%。
3.仪器预热: 将电阻仪接通电源，按照仪器说明书要求预热一定时间，使仪器达到稳定的工作状态，通常预热时间为15-30分钟。
校准步骤
1.零位校准
-确保电阻仪的测试线处于开路状态(即不连接任何电阻)。
-调节电阻仪的零位调节旋钮(如果有)，使显示值为零。现代数字式电阻仪一般会自动进行零位校准，可查看
仪器说明书进行操作。
2.满量程校准
-将电阻仪量程设置到 大量程档。
- 把一个接近该量程上限值的标准电阻接入电阻仪的测试端。
- 调节满量程调节旋钮(如果有)，使电阻仪的显示值与标准电阻的标称值一致。若为数字式电阻仪，若显示值
与标称值不符，可按照说明书进行满量程校准设置。
3.多点校准
-在电阻仪的测量范围内，选取若干个不同阻值的标准电阻，一般选取3-5个点，均匀分布在整个量程内，例
如低、中、高量程各选一个点。
-将所选的标准电阻依次接入电阻仪的测试端，记录电阻仪的显示值。
- 计算每个测量点的测量误差，公式为:误差=(测量值-标准值)/标准值x100%。
- 如果误差超出电阻仪的允许误差范围，需对电阻仪进行调整。对于指针式电阻仪，可调节内部的校准电位器等元件;对于数字式电阻仪，可能需要进入仪器的校准菜单，按照提示输入校准系数等参数进行调整。调整后重新测量并验证误差是否在允许范围内。
符合标准及适用范围：
完全符合国家标准GB1410－2006固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法，ASTM D257 绝缘材料的直流电阻或电导试验方法 等标准要求。
本仪器配不同的测量电极（夹具）可以测量不同材料（固体、粉体或液体）的体积电阻率和表面电阻率或电导率。适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。本仪器除能测电阻外，还能直接测量微弱电流。
粉末电阻率测试仪的工作原理主要基于欧姆定律和四探针法，结合特定电极配置和几何修正因子实现精确测量。以下是核心原理及技术细节：
一、基础原理
欧姆定律法?
通过向粉末样品两端施加稳定电压
U，测量通过样品的电流
I，根据公式
R=U/I 计算电阻
R。该方法适用于简单电阻测量，但易受接触电阻影响
1。
四探针法?
电极配置?：四根等间距探针接触样品，外侧两根通入恒定电流
I，内侧两根测量电压降
U，通过公式
R=(U/I)×k 计算电阻，其中
k 为几何修正因子。
优势?：消除接触电阻干扰，电流分布更均匀，适用于粉末压片或松散样品的电阻率测量。
二、测试流程与修正
粉末压片法?
将粉末压制成薄片后测量，通过厚度
l 和面积
S 计算电阻率
ρ=R×(S/l)。同步测量压强与电阻率变化，可绘制“电阻率-压强”曲线。
电导率转换?
电导率
σ=1/ρ，部分仪器直接输出电导率值，范围覆盖
三、技术优化
多通道测量?：新型设备采用多探针阵列，减少电流非线性分布误差，提升重复性。
自动化计算?：集成软件自动修正几何参数，支持数据实时分析及报告生成。
四、应用场景
主要用于电池材料（如磷酸铁锂正极）、半导体粉末、石墨等导电性能评估，需确保样品干燥且颗粒均匀
型号及指标Models and indicators：
1.电阻resistance | 10-7～2×107Ω |
2.电阻率范围Resistivity | 10-7～2×107Ω-cm |
3.电导率Conductivity | 5×10-7～107s/cm |
4.测试电流范围 current | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA |
5.测量电压量程Voltage | 测量电压量程 voltage：2mV 20mV 200mV 2V 测量精度Accuracy±（0.1%读数） 分辨率 Resolution： 0.1uV 1uV 10uV 100uV |
6.电流精度Current | ±0.1%Accuracy |
7.电阻精度Resistance Accuracy | ≤0.3%标准电阻resistance |
8.显示读数display | 液晶显示：电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算、横截面、高度，上下限警报 LCD: resistance, resistivity, conductivity, temperature, pressure value, the unit automatically conversion, cross-section,， and upper limit alarm |
9.测试方式Test mode | 四端测量法Four-terminal measurement method |
10.传感器压力Pressure Sensors | 200kg；(其他规格可以定制) (Other specifications can be customized) |
11.粉末测量装置 Powder measuring device | 模具Mold：内径inner diameter 10mm； 20mm（选购）, height: 25mm, 加压方式：手动液压加压测量 pressure: manual hydraulic pressure / automatic compression mode (purchase). |
12.工作电源power supply | 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗Power consumption：<30W |
13.外形尺寸/dimensions | 主机Mainframe：约L330mm*D350mm*H120mm ;手动装置about：约H450mm*L200mm*D120mm |
14.净重量/Net Weight | 约35kg About 35kg |
单位
在国际单位制中，电阻率的单位是欧姆·米。一般常用的单位是欧姆·毫米2／米。
四探针法作为一种高精度的电阻测量技术，在多个领域具有广泛的应用，主要包括以下方面：
1. 半导体材料研究
用于测量硅、锗、砷化镓等半导体材料的电阻率、载流子浓度及掺杂类型，直接关联杂质含量分析。
在晶圆制造中检测电阻率均匀性，确保外延片、离子注入片等工艺质量。
通过温度依赖性研究，分析半导体材料的电学性能变化。
2. 薄膜材料分析
适用于金属膜、氧化物薄膜（如氧化铝、氮化硅）及半导体薄膜的电阻率测量，评估其导电性能。
在光伏领域检测太阳能电池薄膜的方阻分布，优化材料制备工艺。
对微纳米金属烧结体（如银、铜）的电阻率进行高精度测量，避免接触电阻干扰。
3. 纳米材料与石墨烯表征
测量石墨烯的薄层电阻和载流子迁移率，分析晶界、褶皱对电导率的影响。
微四探针技术（M4PP）可实现晶圆级石墨烯电导性能的高分辨率评估，误差低于0.1%。
4. 导电材料检测
用于合金、陶瓷等导电材料的电阻率测试，支持大尺寸样品直接测量。
在微电子器件制备中快速检测器件的电学性能。
5. 工业与科研应用
通过电阻率mapping技术，分析材料表面电学性能的空间分布。
结合范德堡法，适用于任意形状样品的电阻率测量，扩展应用场景。
四探针法的核心优势在于其非破坏性、高精度及对样品形状的适应性，使其成为半导体、纳米材料及工业检测中的标准技术
北广精仪公司电性能及橡胶塑料相关产品：
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