四探针粉末电阻测试仪 四探针粉末电阻测试仪
适用行业：:
用于：企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.
双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
基本原理
探针排布与电流注入?
四根探针（通常为钨丝或碳化钨材质）以等间距直线排列，外侧两探针（1、4号）通入恒定电流I，内侧两探针（2、3号）测量电压降V。
电流源范围通常为1μA~100mA，电压表精度可达±0.1%
技术优势
接触电阻消除：电压测量回路电流极小，探针接触电阻及导线电阻可忽略，尤其适合高电阻率材料（如半导体）或薄膜测量。
无损检测?：无需制备电极，对脆性材料（如硅片）无损伤。
宽量程覆盖：测量范围可达10??~10?Ω·cm电阻率及10??~10?Ω/□方块电阻。
选择适合导电粉末的电阻率测试仪需结合材料特性、测试精度及设备功能，以下是关键选择要点：
一、测试方法适配性
四探针法?
适用于高精度测量，通过四根等间距探针消除接触电阻误差，尤其适合薄层或压片导电粉末（如石墨烯、金属粉）。
需确保探针材料为铂或金，以提升稳定性和导电性。
二电极法?
操作简单，适合块状或厚层样品，但需通过高压（）压制粉末以减少接触电阻影响。
二、核心性能要求
测量范围与精度?
导电粉末电阻率通常较低（如10^-6～103Ω·cm），需选择量程覆盖此范围且精度≤0.3%的仪器。
电导率计算需支持自动转换（σ=1/ρ）。
环境控制?
温湿度补偿功能（如23±2℃、50±5%RH）可减少环境干扰。
三、样品处理与设备功能
粉末压片配套?
需搭配压片机将粉末压制成标准试样（直径15mm），确保密度和厚度一致性。
压力控制精度需达±0.05MPa，避免孔隙率影响结果。
自动化与数据管理?
优选支持自动加载、实时数据记录及曲线绘制的设备。
四、典型应用场景
电池材料?：如锂电正极粉末，需同步测试电阻率-压实密度关系。
金属粉末?：需高电流（如300A）测试以模拟实际导电路径。
参数：
规格型号 | |
1.方块电阻范围 | 10^-5～2×10^5Ω/□ |
2.电阻率范围 | 10^-6～2×10^6Ω-cm |
3.测试电流范围 | 0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA，10mA，100 mA |
4.电流精度 | ±0.1%读数 |
5.电阻精度 | ≤0.3% |
PC软件界面 | 显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 |
7.测试方式 | 双电测量 |
8.四探针仪工作电源 | AC 220V±10%.50Hz <30W |
9.误差 | ≤3%（标准样片结果 |
10.温度(选购) | 常温 --200；400℃；600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃ |
11.气氛保护（气体客户自备） | 常用气体如下：氦(He)、氖(Ne)、氩(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn)，均为无色、无臭、气态的单原子分子 |
12.温度精度 | 冲温值：≤1-3℃；控温精度：±1°C |
13.升温速度： | 常温开始400℃--800℃需要15分钟；800℃-1200℃需要30分钟；1400℃-1600℃需要250分钟—300分钟 |
14.高温材料 | 采用复合陶瓷纤维材料，具有真空成型，高温不掉粉的特征 |
15.PC软件 | 测试PC软件一套，USB通讯接口，软件界面同步显示、分析、保存和打印数据！ |
16.电极（探针）材料标配 | 钨电极或钼电极+电极（探针）陶瓷管 +高温陶瓷样品台，1套. |
17.探针间距 | 直线型探针，探针间距：4mm； |
18.样品要求 | 样品长度要求≥13mm 样品宽≥2mm或直径≥13mm |
19.高温电源： | 供电：400-1200℃ 电源220V，功率2-4KW；380V;1400℃-1600℃电源380V；功率4-6KW： |
高温塑料薄膜电阻率测定仪恒温范围选择方法
铂薄膜RTD 高可测850℃，但塑料薄膜基材通常承受不了这么高温度。这说明恒温范围选择要先考虑材料耐温性，而非仪器极限值。比如聚酰亚胺薄膜通常不超过400℃，而PE薄膜测试温度可能只需80-120℃。
需要分三个维度建议：材料特性（分解温度/相变点）、测试目的（质量控制/科研）、环境要求（气氛保护）。尤其要提醒用户注意GB/T 1410标准中要求的预处理温度和时间，这些都会影响恒温范围设定。
选择高温塑料薄膜电阻率测定仪的恒温范围需综合材料特性、测试标准及仪器性能，具体方法如下：
一、根据材料特性选择材料耐温上限?
常见塑料薄膜（如PI、PET、PEI）的软化点通常为 ?200℃~400℃?，测试温度应低于材料分解温度 ?20~50℃?，避免形变或性能劣化影响数据准确性。
例如：聚酰亚胺（PI）薄膜建议恒温范围 ?≤350℃?。
?相变点或玻璃化转变温度（Tg）?
测试温度需覆盖材料关键相变点（如Tg、熔点），例如研究导电薄膜时需包含 ?室温~200℃? 区间以观察电阻率突变。
二、匹配测试标准与实验目的标准规范要求?
GB/T 10518-2006 规定绝缘材料高温电阻测试需在 ?100℃~500℃? 范围进行。
ASTM D257 建议测试温度至少比材料 高使用温度高 ?25℃?。
?功能需求?
若需研究温度-电阻率曲线，恒温范围应覆盖 ?材料 低工作温度至 高失效温度?（如 ?-70℃~300℃?）。
仅需高温点测试（如150℃质量控制），可选单点恒温机型。
??? 三、仪器性能关键参数
?温控范围与精度?
优先选择宽温域机型：如 ?GDW-500?（?-160℃~500℃?）或 ?HTIM-1000?（真空/气氛环境）。
控温精度需 ?≤±0.5℃?（如GDW-500），避免波动导致阻值漂移。
?温场均匀性?
样品区域温差应 ?<±2℃?，确保薄膜受热均匀。可通过红外热成像验证设备温场分布。
四、操作限制与风险规避
?仪器工作环境约束?
多数电阻率测试仪主机仅适应 ?0℃~40℃? 环境，高温测试需外接独立温控腔体（如GDW-500的液氮制冷系统）。
?样品预处理要求?
高温测试前需在目标温度下恒温 ?≥30分钟?，消除热历史效应。
?? 选型推荐表
?材料类型? ?建议恒温范围? ?? ?关键优势?
?通用塑料薄膜? 室温~300℃ 性价比高，操作简便
?耐高温薄膜? -70℃~500℃ 宽温域，液氮制冷，精度±0.5℃
?导电/半导体膜? 真空环境~600℃ 铂电极防氧化，支持气氛控制
?注?：极端条件测试（如>500℃）需定制设备，并确认电极材料（如铂金）与夹具的耐温性
体积电阻率测定仪，表面电阻率测定仪，体积表面电阻测试仪，绝缘材料电阻率测定仪，橡胶电阻率测试仪，塑料薄膜体积表面电阻率测定仪，体积电阻率表面电阻率测定仪，固体绝缘材料表面电阻率测试仪，电阻率测试仪,液体体积电阻率测定仪，粉体体积电阻率测定仪，三电极法体积表面电阻测定仪
能测试体积电阻率和表面电阻率实现目前市场测量量程宽
高阻测量一定要严格按使用方法步聚进行，否则有可能造成仪器 损坏或电人。
适用材料：
橡胶、塑料、聚酯薄膜、胶片、硅胶、光伏组件、汽车零部件、复合材料、陶瓷、玻璃、云母、树脂等固体绝缘材料。配备不同电极还可测试液体、粉末材料。
体积，几何学专业术语，是物件占有多少空间的量。体积的国际单位制是立方米。一件固体物件的体积是一个数值用以形容该物件在三维空间所占有的空间。一维空间物件（如线）及二维空间物件（如正方形）在三维空间中都是零体积的。
扩展资料：
体积计算方法：
体积公式是用于计算体积的公式，即计算各种几何体体积的数学算式。比如：圆柱、棱柱、锥体、台体、球、椭球等。
体积公式：计算各种由平面和曲面所围成。
一般来说一个几何体是由面、交线（面与面相交处）、交点（交线的相交处或是曲面的收敛处）而构成的图形的体积的数学算式
