数字源表IV测试钙钛矿太阳能电池片方案

 
 
单价 面议对比
浏览 364
发货 湖北武汉江夏区付款后3天内
品牌 普赛斯仪表
测试范围 0~300V/0~3A
测试精度 0.03%
工作环境 25±10℃
更新 2025-09-24 10:33
手机号:18140663476

请说明来自快采购网,享专属优惠价!

 
联系方式
加关注0

武汉普赛斯仪表有限公司

普通会员第3年
资料通过认证
产品详细

一、多通道数字源表测试钙钛矿太阳能电池方案简介

1.项目背景

钙钛矿型太阳能电池(perovskite solar  cells),是利用钙钛矿型的有机金属卤化物半导体作为吸光材料的太阳能电池,属于第三代太阳能电池,也称作新概念太阳能电池。


2.项目挑战

  传统电子负载加万用表测量的效率低下;

  进口源表的软件配套开发不完善。


二、钙钛矿材料简介


1.钙钛矿材料种类

钙钛矿晶体为ABX3  结构,一般为立方体或八面体结构。

在钙钛矿晶体中,B离子位于立方晶胞的中心,被6个X离子包围成配位立方八面体,配位数为6;

A离子位于立方晶胞的角顶,被12个X离子包围成配位八面体,配位数为12,如图  所示,其中,A离子和X离子半径相近,共同构成立方密堆积。


2.钙钛矿太阳能电池的结构与原理


(1)钙钛矿电池结构与原理

在接受太阳光照射时,钙钛矿层首先吸收光子产生电子-空穴对。因为这些钙钛矿材料往往具有较低的载流子复合几率和较高的载流子迁移率,所以载流子的扩散距离和寿命较长。这些未复合的电子和空穴分别被电子传输层和空穴传输层收集,即电子从钙钛矿层传输到等电子传输层,Z后被ITO(导电玻璃电极Indium-tin  oxide)收集;空穴从钙钛矿层传输到空穴传输层,Z后被金属电极收集,通过连接FTO(导电玻璃、Fluorine-doped tin  oxide)和金属电极的电路而产生光电流。

(2)钙钛矿电池制作过程

0.jpg

(3)典型成品钙钛矿电池片

成品钙钛矿电池.jpg


三、数字源表IV测试钙钛矿太阳能电池片方案说明

1.测试要求

(1)IV系统

测量以下主要参数:

开路电压Uoc(Open  Circuit Voltage);

短路电流Isc(Short-circuit Current);

峰值电压Um;

峰值电流Im;

峰值功率Pm=UmXIm;

填充因子FF;

转换效率?=Pm(电池片峰值功率)XPin(单位面积入射的光功率)/S(电池片的面积)

……

(2)QE系统

测量以下主要参数:

光谱响应度;

外量子效率;

内量子效率;

反射率;

透射率;

积分短路电流密度;

光束诱导电流

……


2.测试所需仪表

AAA太阳光模拟器;

标准单晶硅太阳电池(中国计量研究院标定);

普赛斯S型源表或CS系列插卡式源表;

样品探针台或者定制夹具;

IV测试分析软件;


3.典型测试指标

典型测试指标.jpg


4.选型依据

电压量程及精度;电流量程及精度;

采样速率高;IV测试分析软件功能;


5.多通道数字源表测试钙钛矿太阳能电池方案连接图

        CS系列源表多通道测试系统

CS源表多通道测试系统.jpg

       

       S系列源表多通道测试系统

S型源表多通道测试系统.jpg



插卡式+采集卡.jpg









关于武汉普赛斯仪表有限公司

注册年份 2019
热销产品 仪器仪表、电子产品的研发、生产、销售;电子技术服务
公司简介 武汉普赛斯仪表有限公司,位于东湖新技术开发区光谷大道308号光谷动力节能环保产业园10栋5楼。公司经营模式:制造商,主要经营:仪器仪表、电子产品的研发、生产、销售;电子技术服务,注册资本:1000万人民币。公司联系人:王承,公司联系电话:027-87993690,或联系手机:18140663476。公司依托强而有力的技术支持与丰富的营销经验,为不同类型的客户量身定制贴心服务,为客户提供优质的产品服务。
更新信息 快采购网供应商武汉普赛斯仪表有限公司供应数字源表IV测试钙钛矿太阳能电池片方案,为您提供详细的产品报价、参数、图片等商品信息,本产品于2025-09-24 10:33更新,主要更新内容为:产品类别、产品参数、产品价格、产品图片等信息。如需进一步了解数字源表IV测试钙钛矿太阳能电池片方案详细信息,请与厂家直接联系,并说明是在快采购网看到这条商机的。
更多>老板推荐
  • 数字源表IV测试钙钛矿太阳能电池片方案

    数字源表IV测试钙钛矿太阳能电池片方案

    面议
  • mos及光耦静态电特性参数测试SMU源表

    mos及光耦静态电特性参数测试SMU源表

    面议
  • 1200V半导体分析仪替代4200

    1200V半导体分析仪替代4200

    面议
  • IGBT击穿电压测试高压源

    IGBT击穿电压测试高压源

    面议
  • 30A脉冲源and脉冲电源1us脉宽

    30A脉冲源and脉冲电源1us脉宽

    面议
  • 功率半导体器件静态测试机1700V+1000A

    功率半导体器件静态测试机1700V+1000A

    面议
  • 功率器件CV测试系统

    功率器件CV测试系统

    面议
  • 三极管IV特性曲线测试SMU国产源表

    三极管IV特性曲线测试SMU国产源表

    面议
  • 脉冲源表30A大电流源表功率器件测试

    脉冲源表30A大电流源表功率器件测试

    面议
  • 半导体特性曲线测试仪IV扫描仪

    半导体特性曲线测试仪IV扫描仪

    面议
相关商机

在线客服

联系人:王承
18140663476
027-87993690

平台客服二维码

扫一扫,平台客服

商家未上传二维码

网站首页  |  服务条款  |  禁售规则  |  隐私政策  |  隐私声明  |  关于我们  |  联系我们  |  企业官网SEO优化  |  热搜公司  |  热搜产品  |  网站地图  |  违规举报